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产品名称:

电饭锅温度冲击试验箱

产品类别:
电饭锅温度冲击试验箱广泛用于自动化零部件、电子电器零组件、汽车配件、通讯组件、化学材料、金属、塑料行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料经对冷、热温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量。
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电饭锅温度冲击试验箱广泛用于自动化零部件、电子电器零组件、汽车配件、通讯组件、化学材料、金属、塑料行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料经对冷、热温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量。

     试验箱分为热温区、冷温区、测试区三部分,具独特之蓄热蓄冷冲击效果,试验时待测物完全静止,应用冷风路切换打开阀门的方式导入试品中。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽或三槽之功能,具有高低温试验机的功能。试验方式:试验时待测物试验箱里静静的摆放着,温度在高温箱及低温箱内受试验条件及控制器指标根据冷热冲击要求通过气体分别把冷热温度带动过来完成交替冲击的试验条件。

电饭锅温度冲击试验箱技术参数:

规格型号:LQ-TS-50/80/100/150/252/480

容量:50升、80升、100升、150升、252升、480

内箱尺寸(宽*高*深):400X350X360500X400X400500X500X400600X500X500700X600X600800X800X750MM

外形尺寸(宽*高*深):1560X1950X14001700X2070X15001700X2170X15001800X2270X16001900X2370X17002000X2570X1850MM

试验温度范围:A表示:-40℃~+150

              B表示:-55℃~+150

              C表示:-65℃~+150

低温槽温度范围:-55℃~-10℃、-70℃~-10℃、-80℃~-10

高温槽温度范围:+60℃~+200℃,升温速率平均5/MIN

温度波动度:±2.0

温度转换时间:10S

温度稳定时间:5MIN,常温~低温度5MIN,常温~高温度5MIN

执行与满足标准

1、GB/T2423.1-1989低温试验方法;

2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;

4、GJB150.5-86温度冲击试验;

5、GJB360.7-87温度冲击试验;

6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。

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