高低温冲击试验箱试验机

高低温冲击试验箱试验机广泛用于自动化零部件、电子电器零组件、汽车配件、通讯组件、化学材料、金属、塑料行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料经对冷、热温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。

高低温冲击试验箱试验机附属功能:

预先设定试验开始时间，试验箱自动开始起动并准备开始试验。

进气口在环境温度曝露时吸进外面的空气。

排气口从机械室和试验区排出热气定时预定功能。

曝露时间缩短功能。

试验区的下风温度达到曝露温度后转换到下一个曝露的功能。

前处理/后处理功能。

在循环试验开始前或结束后，试样被曝露在高温环境中（热处理）维持一定时间。

干燥运转功能。

试验结件下运转一定的时间。

不同温段冲击：由多级蒸发器结构相应切断，控制蒸发面积与制冷量膨胀阀匹配，使用制冷系统输出合理减少加热器中和的输出量，达到恒定节能；另有独立的换气阀门，在排气（常温恢复）时动作引入环境空气。

参数可选择如下：

实验箱冲击温度：高温 +60～150℃（固定）.低温 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃)D：( -10～ -65℃)（可选择其中一个低温配高温）

高温储温箱高温范围可达：+60 ~200℃.

低温储温箱低温范围可达：-10℃~-75℃

高低温转换时间：≤10S

风门启动时间：≤3S

高低温恢复时间：3~5min（非线性空载下）

预冷区降温速度： ≥2℃/min（非线性）

预热区升温速度： ≥3℃/min（非线性）

控制精度：温度±0.2℃（指控制器设定值和控制器实测值之差）

温度波动度：≤0.5℃（温度波动度为中心点实测高温度和低温度之差的一半）

温度均匀度：≤2.0℃（温度均匀度为每次测试中实测高温度和低温度之差的算术平均值）

控制器采用*微彩色计算机液晶显示触控式控制器OYO9226S，多120 程度,3个段. 每一個命令可達999次; 程式段時間設定0～99Hour59Min。

高低温冲击试验箱试验机广泛用于自动化零部件、电子电器零组件、汽车配件、通讯组件、化学材料、金属、塑料行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料经对冷、热温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。

高低温冲击试验箱试验机附属功能:

预先设定试验开始时间，试验箱自动开始起动并准备开始试验。

进气口在环境温度曝露时吸进外面的空气。

排气口从机械室和试验区排出热气定时预定功能。

曝露时间缩短功能。

试验区的下风温度达到曝露温度后转换到下一个曝露的功能。

前处理/后处理功能。

在循环试验开始前或结束后，试样被曝露在高温环境中（热处理）维持一定时间。

干燥运转功能。

试验结件下运转一定的时间。

不同温段冲击：由多级蒸发器结构相应切断，控制蒸发面积与制冷量膨胀阀匹配，使用制冷系统输出合理减少加热器中和的输出量，达到恒定节能；另有独立的换气阀门，在排气（常温恢复）时动作引入环境空气。

参数可选择如下：

实验箱冲击温度：高温 +60～150℃（固定）.低温 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃)D：( -10～ -65℃)（可选择其中一个低温配高温）

高温储温箱高温范围可达：+60 ~200℃.

低温储温箱低温范围可达：-10℃~-75℃

高低温转换时间：≤10S

风门启动时间：≤3S

高低温恢复时间：3~5min（非线性空载下）

预冷区降温速度： ≥2℃/min（非线性）

预热区升温速度： ≥3℃/min（非线性）

控制精度：温度±0.2℃（指控制器设定值和控制器实测值之差）

温度波动度：≤0.5℃（温度波动度为中心点实测高温度和低温度之差的一半）

温度均匀度：≤2.0℃（温度均匀度为每次测试中实测高温度和低温度之差的算术平均值）

控制器采用*微彩色计算机液晶显示触控式控制器OYO9226S，多120 程度,3个段. 每一個命令可達999次; 程式段時間設定0～99Hour59Min。

​