半导体测试高低温设备

半导体测试高低温设备是从高温循环到低温;从低温循环到高温,从各个程序之间做循环等等.所做的温度范围供顾客随意设定及选择,循环的次数及时间也可随时供顾客设定及选择.主要适用于产业界电子、电工、电器、军工、航天、塑料、光电、五金、光伏、化工、塑胶、油漆、涂料等行业，如：电子零件、汽车零件、笔记本等产品虚拟温度气候环境做试验。

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半导体测试高低温设备箱体结构

整台设备采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。

箱体内胆采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板，箱体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。

箱体左侧配一直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。

大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。

箱体保温采用超细玻璃纤维保温棉，可避免不必要的能量损失。

试验样品保护:按照EN60519-21993，热安全2级。

具有独立的可调节温度限制器*低温度/*温度，可分别调节某一温度，试验空间配置移动式温度传感器。

可调节软件温度限制器*低温度/*温度，可分别调节某一温度值。

试验样品通断保护

特别用于热辐射试验样品的安全开关，连接至零电势转换接触器，*负载24V,0.5A。

试验箱保护:安全温度限制器（STB），用于试验箱的超温保护，热保护等级符合EN60519-2,1993等级1。

目前我司现有的规格尺寸供客户选择与参考的有:80升:(宽40x高50x深40cm)；150升:(宽50x高60x深50cm)；225升:(宽50x高75x深60cm)；408升:(宽60x高85x深80cm)；800升:(宽100x高100x深80cm)；1000升:(宽100x高100x深100cm);宽高深相乘等于容积,以上是每个容积对应的宽高深,都标准常做的试验箱规格,大家可以选择其中一个尺寸然后配一个合适的温度范围,目前行业常规的温度范围有:A:0℃~150℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D：-70℃~150℃

更多资料方案可联系生产厂家东莞市柳沁检测仪器有限公司.